美国福禄克 FLUKE F316交直流钳表 F312 交流钳表 F316交直流钳表 F318交直流钳表 交流电流 量程 40.00A/400.0A/1000A 40.00A/400.0A/1000A ...

美国福禄克 FLUKE F336交直流钳表Fluke 330系列的钳表是根据对电气工程师对钳表Z常用的功能需求进行研究后设计的。330系列是适用客户众多功能创新特征的结合 •外观 ----从外观上看，...

测量温度：-20至60 ℃；分辨率0.1 ℃ ； 0-45 ℃时精准到±0.5 ℃，其他±1 ℃ 测量相对湿度：5 至 95 %；分辨率1%； 准确度±2.5...

测量温度范围： J型： -210 ℃ 至 1200 ℃ K型： -200 ℃ 至 1372 ℃ T型： -250 ℃ 至 400 ℃ E型： -150 ℃ 至 1000 ℃ N型： -200 ℃ 至 ...

Fluke 931转速计光学（非接触）测量转速：1至99999转/分 接触测量转速：1至19999转/分 精度：± 0.02 % 读数 + 1 个字 光学传感距离：500mm。

Fluke 922空气流量检测仪测量空气压力：范围±4000帕；分辨率1帕； 准确度±1 % + 1帕 测量空气流速：范围1-80米/秒；分辨率 0.001米/秒；准确度10.00...

Fluke 925叶轮式风速计测量风速：0.4至25.00米/秒，0.01米/秒 分辨率，精度±2% 测量风温：0至50 ℃，0.1 ℃分辨率，精度 ±0.8 ℃ 测量风量：0.0...

Fluke 941照度计可测量荧光灯、金属卤化灯、高压钠灯或白 炽灯等光源发出的可见光 测量范围：20、200、2000、20000、200000 Lux（勒克司） 20、200、2000、20000...

Fluke 945噪音计测量环境噪音(A加权)：30至130 dB， 0.1 dB分辨率，精度±1.5 dB 测量机械噪音(C加权)：35至130 dB， 0.1 dB分辨率，精度±...

SP3000系列数字合成扫频仪/南京盛普 频率范围 20Hz～60MHz 采用直接数字合成技术，微处理器控制；内置检波器，无需检波探头；可完成20Hz～120MHz范围内任意一频率段的幅频特性的测量；...

SP1651 型数字合成低频功率信号发生器/南京盛普频率范围 0.1Hz ～ 200kHz 分辨率:0.1Hz 采用DDS数字直接合成技术，由AVR 高速单片机控制，LCD（液晶屏显示）、按键操作，具...

SP1212B 型数字合成音频信号发生器/南京盛普频率范围 20Hz～20KHzZ高分辨率：1 Hz本仪器，具有输出功率正弦波信号和TTL输出。按键操作，可任意输入数据，是电子实验室，工厂企业的理想信...

JC2000系列数字存贮示波器 ▲高清晰度全屏幕彩色或单色液晶显示 ▲双通道：模拟带宽25 - 300MHz ▲实时采样250MHz - 1GSa/s，等效采样率50GSa/s ▲每通道4K的存贮深度...

R3131A频谱分析仪／日本爱德万ADVAN 作为低成本和性能中档的标准频谱分析仪，R3131A可以被应用于广泛的领域。 R3131A带有框架插槽式设计，操作键布局简单明了，可以简便地设计成为通用或系...

扫频•标志信号产生器SMG-820AM IF SMG-820FM IF SMG-820AM SMG-820 FMSMG-820系列为固定式扫频仪（中央信号源），该系列中每一型号都有其固定频率（通用频率...

扫频•标志信号产生器DSM-620-S DSM-8082及DSM-620系列均为数字式扫频，标志产生器（中央信号源），系列中每一型号都具有频宽广阔，扫频范围可以自动调节的特点，因每个标志点均由相锁环线...

上海新建　XJ4822型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4822 CRT读出图示仪，外观新颖，技术*，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲...

上海新建　XJ4810型半导体管特性图示仪 XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以...

上海新建　XJ4810A型半导体管特性图示仪 XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可...

上海新建　QT2型半导体管特性图示仪 QT2型半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，Z大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置，可对5KV以下的二极管...