● 测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad）,Vm,Im ● 测试频率：50Hz~200kHz （24064点） ● 基本准确度：0.05% ● 测试电平：0.01V~2.00V 以10mV步进 ● 测试速度：4次/秒，9次/秒，25次/秒 ● 主参数5位，副参数6位显示

AT811 精简了全功能型AT810的电路，大规模的贴片技术的运用，使用安柏科技经典的微型机箱。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.3V，1V测试电平，使其能*一般生产现场的使用。使用安柏科技 AT-OS 2007 微型仪器操作系统，使AT811更易用。

● 测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ（deg）,θ（rad） ● 测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz ● 基本准确度：0.1% ● 测试电平：0.1V, 0.3V, 1.0V ● 测试速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 ● 主副参数5位显示

● 测试主副参数：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg ● 测试监视参数:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% ● 测试频率：50Hz~200kHz (24064点) ● 基本准确度：0.05% ● 测试电平：0.01V~2.00V 以10mV步进

● 测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) ● 测试频率：50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,200Hz,400Hz,500Hz,1kHz, ● 2kHz,4kHz,5kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz ● 基本准确度：0.05% ● 测试电平：0.01V~2.00V 以10mV步进