3503电容测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 　 C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量，低价、高效 · 定电压测量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz时 · 4ms（代表值）的高速测量 · 内置比较器 · 数台同时使用时，相位同步可能 · 附带同时触发输出功能

3535LCR测试仪120MHz 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 　 LCR测试仪 高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带 高速LCR测试（6ms/采样） 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 测量参数 |Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)

3511-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 　 LCR测试仪 精巧，非常专业，5ms快速测量LCR · 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度： ±0.08% · 内置比较器 测量参数 │Z│,θ，C，L，D，Q，R 测量方法 测量源：恒压50mV，500mV，1Vrms(AC) 检测：电压，AC 测量频率 120Hz或1kHz

3522-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 　 LCR测试仪 低价及更好的功用和性能 3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和Z佳性价比而见长 基本参数 测量参数 |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q

3532-50 5MHZLCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI