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  • 3503电容测试仪|日本日置 HIOKI 3503电容测试仪|日本日置 HIOKI
    3503电容测试仪|日本日置 HIOKI 3503电容测试仪|日本日置 HIOKI

    3503电容测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI   C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量,低价、高效 · 定电压测量:1V(~17μF)、15mV(~170μF)、1kHz时 · 4ms(代表值)的高速测量 · 内置比较器 · 数台同时使用时,相位同步可能 · 附带同时触发输出功能

    时间:2017-07-19型号:3503电容测试仪|日本日置 HIOKI 浏览量:1111
  • 3535LCR测试仪120MHz|日本日置 HIOKI3535LCR测试仪120MHz|日本日置 HIOKI
    3535LCR测试仪120MHz|日本日置 HIOKI3535LCR测试仪120MHz|日本日置 HIOKI

    3535LCR测试仪120MHz 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI   LCR测试仪 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 测量参数 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)

    时间:2017-07-10型号:3535LCR测试仪120MHz|日本日置 HIOKI浏览量:897
  • 3511-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 3511-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI
    3511-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 3511-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI

    3511-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI   LCR测试仪 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR · 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度: ±0.08% · 内置比较器 测量参数 │Z│,θ,C,L,D,Q,R 测量方法 测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC) 检测:电压,AC 测量频率 120Hz或1kHz

    时间:2017-07-08型号:3511-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 浏览量:924
  • 3522-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 3522-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI
    3522-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 3522-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI

    3522-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI   LCR测试仪 低价及更好的功用和性能 3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗,以使用方便、功能完备和Z佳性价比而见长 基本参数 测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

    时间:2017-07-06型号:3522-50LCR测试仪|日本日置 HIOKI 浏览量:1011
  • 3532-50 5MHZLCR测试仪|日本日置 HIOKI 3532-50 5MHZLCR测试仪|日本日置 HIOKI
    3532-50 5MHZLCR测试仪|日本日置 HIOKI 3532-50 5MHZLCR测试仪|日本日置 HIOKI

    3532-50 5MHZLCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI

    时间:2017-07-12型号:3532-50 5MHZLCR测试仪|日本日置 HIOKI 浏览量:1232
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