TH2826/TH2826A精密LCR数字电桥

产品简介

■TH2826系列元件测试仪是*台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz的频率范围可以满足元件与材料的一切测量要求，可测量低ESR电容器和高Q电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。■TH2826系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等。

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更新时间：2017-08-03

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■TH2826系列元件测试仪是*台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz的频率范围可以满足元件与材料的一切测量要求，可测量低ESR电容器和高Q电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。

■TH2826系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等。
其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。
■TH2826系列产品以其的性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试

广泛的测量对象
无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

性能特点
■ *台符合LXI标准的LCR表 ■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz分辨率任意编程 ■ 测试电平10mV～5V, 1mv步进 ■ 基本准确度0.1% ■ zui高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合 ■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能			■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A（配置两台TH1776） ■ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展（选件） ■ 中英文可选操作界面